Exact Covers and Pattern Matching with Mismatches (Dokładne szablony i wyszukiwanie wzorca z dozwolonymi niedopasowaniami)
Recenzenci:
dr hab. Artur Jeż (Uniwersytet Wrocławski), prof. Thierry Lecroq (University of Rouen Normandy, Francja), prof. Amihood Amir (Bar-Ilan University, Izrael)
Nie jesteś zalogowany | zaloguj się
